19 Eylül 2019 | Perşembe
 

Altyapı

Cihazın/Sistemin Adı:JEOL 6060 TARAMA ELEKTRON MİKROSKOBU (SEM)
Teknik Özellikleri:Yüksek voltaj ayırım gücü (SEI)3.5 nm (30 kV, WD = 6 mm) // Büyültme: 25 – 100.000X // Çalışma mesafesi:10 –45mm // Görüntü çeşitleri:SEI ve BEI // Görüntü saklama // Bilgisayar ve yazıcı // Otomatik fonksiyonlar: odaklama, astigmatizm korrektürü, kontrast ve parlaklık. // Vakum Sistemi:Tam otomatik // EDS Mikroanaliz ve Sayısal Mikro Görüntüleme
Kullanım Alanları: Tarama elektron mikroskobu, kullanılabilir geniş bir büyütme aralığında metalografik olarak hazırlanmış numuneler ve topokrafik yüzeyli numunelerin yüksek netlik derinliğine sahip tam odaklanmış görüntülerinin elde edilmesinde ve mikroyapı fazlarının veya faz alanlarının elementsel analizinin yapılmasında kullanılmaktadır.
Ücretli kullanım:
Cihazın/Sistemin Adı:IXRF EDX MİKROANALİZ SİSTEMİ
Teknik Özellikleri:Dijital mikro görüntüleme ile enerji dağılım spektrometresi. 10 mm2 kristal alanlı Si(Li) Dedektör Analiz edilebilir element aralığı: B(5)-U(92) 7.5 lt sıvı azot tankı Bilgisayar sistemi
Kullanım Alanları: SEM ile birlikte çalışan Enerji Dağılımlı X- Işınları Mikroanaliz Spektrometresi (EDS) ile mikroyapıda var olan tane ya da herhangi bir nokta üzerinde mikro düzeyde kimyasal analiz yapılabilir.
Ücretli kullanım:
Cihazın/Sistemin Adı:JEOL 50 A TİPİ TARAMA ELEKTRON MİKROSKOBU (SEM)
Teknik Özellikleri:Ayırma gücü:70 Å İvmelendirme voltajı:0-50 kV Görüntüleme:120*90 mm CRT (katot ışınım tüpü)
Kullanım Alanları: Metalografik hazırlanmış numunelerin veya topografik yüzeyli numunelerin yüksek ayırma güçlü görüntülerinin elde edilmesinde kullanılır.
Ücretli kullanım:
Cihazın/Sistemin Adı:QUANTİMET 501 görüntüleme sistemi
Teknik Özellikleri:
Kullanım Alanları: Görüntü analizi optik mikroskop, stereo mikroskop, SEM vb. gibi herhangi bir kaynaktan elde edilmiş görüntüler üzerinde geometrik ve densitometrik ölçümler yapan (mikroyapının sayısal ifadesi) bir sistemdir. Noktasal, çizgisel ve alansal analizler gerçekleştirilerek mikroyapının kantitatif analizi yapılır.
Ücretli kullanım:
Cihazın/Sistemin Adı:ZEISS AXİOTECH Işık Mikroskobu
Teknik Özellikleri:5x, 10x, 20x, 50x ve 100x büyütmeli 5 kademe objektif. CCD kamera. Oküler büyütmesi 10x. Görüntü yakalama kartına sahip bilgisayar sistemi. Karanlık alan, aydınlık alan, diferansiyel enterferans kontrast ve polarize ışık kontrastı ile görüntüleme seçenekleri.
Kullanım Alanları: Metalografik olarak hazırlanmış numunelerin mikroyapı görüntülemelerinde kullanılır.
Ücretli kullanım:
Cihazın/Sistemin Adı:TRINOKULAR Stereo Mikroskop
Teknik Özellikleri:CCD kamera ile görüntü aktarımı. 0,7x, 1x, 1,5x, 3x büyütme.
Kullanım Alanları: Makro seviyede üç boyutlu görüntülemede kullanılır.
Ücretli kullanım:
Cihazın/Sistemin Adı:BAL-TECH Sputter Düzeneği
Teknik Özellikleri:Altın, palladyum, gümüş, bakır katotlar kullanılarak küçük tane boyutlu ince iletken filmler kaplanabilir. Ortam gazı olarak aktif gaz kullanılarak oksidik film kaplanabilir.
Kullanım Alanları: SEM incelemeleri için iletken filmlerin oluşturulmasında ve mikroyapı incelemelerinde kontrast artırma yöntemi olarak renkli metalografide kullanılır.
Ücretli kullanım: